Diseño electrónico para la verificación de parámetros en dispositivos semiconductores BJT, MOSFET de enriquecimiento y diodos

Este proyecto se centró en desarrollar un sistema autónomo para la medición y verificación de parámetros críticos en dispositivos semiconductores como diodos rectificadores, diodos Zener, transistores MOSFET y BJT. La ingeniería aplicada consistió en diseñar una herramienta independiente que, sin ne...

Full description

Autores:

Castro Rojas, Hernán Mauricio
Pai, Juan David

Tipo de recurso:

https://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f

Fecha de publicación:

2025

Institución:

Universidad El Bosque

Repositorio:

Repositorio U. El Bosque

Idioma:

spa

OAI Identifier:

oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/14216

Acceso en línea:

https://hdl.handle.net/20.500.12495/14216

Palabra clave:

Semiconductores
Diseño electrónico
Dispositivos electrónicos
Precisión
Medición
621.381
Semiconductors
Electronic design
Electronic devices
Precision
Measurement

Rights

License

Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International