Challenges to the implementation of high temperature and strain instrumentation for in situ testing in the scanning electron microscope [Desafios para la implementación de instrumentación para ensayos in situ de deformación a alta temperatura en el microscopio electrónico de barrido]
- Autores:
-
Torres E.A.
Montoro F.
Unfried J.S.
Ramirez A.J.
- Tipo de recurso:
- Fecha de publicación:
- 2014
- Institución:
- Instituto Tecnológico Metropolitano
- Repositorio:
- Repositorio ITM
- Idioma:
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.itm.edu.co:20.500.12622/3802
- Acceso en línea:
- http://hdl.handle.net/20.500.12622/3802
- Palabra clave:
- Rights
- License
- http://purl.org/coar/access_right/c_14cb