Posicionamiento visual con resolución subpixel de objetos marcados que se desplazan en un plano: conceptos básicos y aplicaciones

La visión es una herramienta conveniente para mediciones de posición. En este artículo, presentamos aplicaciones en las que un patrón de referencia puede ser adherido al objeto de interés. Ésto permite tener un conocimiento a priori de las características de la imagen y así poder optimizar el softwa...

Full description

Autores:
Sandoz, Patrick
Galeano, July A.
Zarzycki, Artur
Botina, Deivid
Cortés-Mancera, Fabián
Cardona, Andrés
Robert, Laurent
Tipo de recurso:
Article of journal
Fecha de publicación:
2017
Institución:
Instituto Tecnológico Metropolitano
Repositorio:
Repositorio ITM
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.itm.edu.co:20.500.12622/1014
Acceso en línea:
https://revistas.itm.edu.co/index.php/tecnologicas/article/view/696
http://hdl.handle.net/20.500.12622/1014
Palabra clave:
procesamiento en fase con transformada de Fourier
medidas de posición en el plano por visión
amplitud de vibración
microscopio de fuerza atómica
microscopía referenciada en posición
Fourier transform phase processing
visual in-plane position measurement
vibration amplitude
shear force microscopy
postion referenced microscopy
Rights
License
https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/deed.es_ES