Posicionamiento visual con resolución subpixel de objetos marcados que se desplazan en un plano: conceptos básicos y aplicaciones
La visión es una herramienta conveniente para mediciones de posición. En este artículo, presentamos aplicaciones en las que un patrón de referencia puede ser adherido al objeto de interés. Ésto permite tener un conocimiento a priori de las características de la imagen y así poder optimizar el softwa...
- Autores:
-
Sandoz, Patrick
Galeano, July A.
Zarzycki, Artur
Botina, Deivid
Cortés-Mancera, Fabián
Cardona, Andrés
Robert, Laurent
- Tipo de recurso:
- Article of journal
- Fecha de publicación:
- 2017
- Institución:
- Instituto Tecnológico Metropolitano
- Repositorio:
- Repositorio ITM
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.itm.edu.co:20.500.12622/1014
- Acceso en línea:
- https://revistas.itm.edu.co/index.php/tecnologicas/article/view/696
http://hdl.handle.net/20.500.12622/1014
- Palabra clave:
- procesamiento en fase con transformada de Fourier
medidas de posición en el plano por visión
amplitud de vibración
microscopio de fuerza atómica
microscopía referenciada en posición
Fourier transform phase processing
visual in-plane position measurement
vibration amplitude
shear force microscopy
postion referenced microscopy
- Rights
- License
- https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/deed.es_ES