Soft metrology based on machine learning: A info:eu-repo/semantics/review
32001
- Autores:
-
Vallejo M.
De La Espriella C.
Gómez-Santamaría J.
Ramírez-Barrera A.F.
Delgado-Trejos E.
- Tipo de recurso:
- Fecha de publicación:
- 2019
- Institución:
- Instituto Tecnológico Metropolitano
- Repositorio:
- Repositorio ITM
- Idioma:
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.itm.edu.co:20.500.12622/3180
- Acceso en línea:
- http://hdl.handle.net/20.500.12622/3180
- Palabra clave:
- Rights
- License
- http://purl.org/coar/access_right/c_14cb