Caracterización de la composición de materiales con detector pixelado por conteo de fotones

Ingeniero Electrónico

Autores:
Rivera Lozano, Camilo Andrés
Tipo de recurso:
Trabajo de grado de pregrado
Fecha de publicación:
2014
Institución:
Universidad de los Andes
Repositorio:
Séneca: repositorio Uniandes
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.uniandes.edu.co:1992/20091
Acceso en línea:
http://hdl.handle.net/1992/20091
Palabra clave:
Ensayo de materiales - Investigaciones
Rayos X - Aplicaciones industriales
Ensayos (Tecnología) - Investigaciones
Ingeniería
Rights
openAccess
License
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