Diseño de sistema de medición de parámetros reales en diodos

Este proyecto aborda el problema de la dependencia exclusiva de los valores nominales proporcionados en los datasheets para diodos y transistores, los cuales pueden no reflejar con precisión su comportamiento real debido a factores como tolerancias de fabricación, condiciones ambientales y envejecim...

Full description

Autores:
Díaz Arévalo, Arnold Andrés Felipe
Robayo Acosta, Daniel Felipe
Tipo de recurso:
https://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
Fecha de publicación:
2024
Institución:
Universidad El Bosque
Repositorio:
Repositorio U. El Bosque
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/13543
Acceso en línea:
https://hdl.handle.net/20.500.12495/13543
Palabra clave:
Diodo
Transistor
Medición
Parámetros
Circuitos
621.381
Diode
Transistor
Measurement
Parameters
Circuits
Rights
License
Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional
Description
Summary:Este proyecto aborda el problema de la dependencia exclusiva de los valores nominales proporcionados en los datasheets para diodos y transistores, los cuales pueden no reflejar con precisión su comportamiento real debido a factores como tolerancias de fabricación, condiciones ambientales y envejecimiento. Para solucionar esta limitación, se diseñó un sistema de medición capaz de obtener parámetros reales y críticos de estos dispositivos, como la tensión umbral en diodos, la ganancia de corriente en transistores BJT, el voltaje Gate-Source y la resistencia Drain-Source en encendido de transistores MOSFET. El sistema integra módulos que cumplen con los rangos y resoluciones necesarios para garantizar mediciones confiables y precisas en condiciones reales de operación. Entre las principales conclusiones, se destaca que el diseño propuesto permite caracterizar los componentes de forma más precisa que los valores teóricos, facilitando su integración en aplicaciones electrónicas. Además, se logró cumplir con los requerimientos establecidos, proporcionando una herramienta que contribuye al diseño de circuitos más estables y eficientes, mejorando la confiabilidad de los sistemas que dependen de dispositivos semiconductores. Este diseño representa un avance significativo hacia la mejora de la caracterización y el ajuste de componentes electrónicos en entornos prácticos.