Sistema electrónico para la medición de parámetros en diodos y transistores

El proyecto aborda la discrepancia entre los valores teóricos especificados por los fabricantes en las hojas de datos de componentes electrónicos y los valores reales obtenidos, así como la incidencia de falsificaciones y defectos de fabricación que afectan el desempeño de los circuitos electrónicos. Se desarrolló un sistema de medición y control automatizado para caracterizar dispositivos semiconductores, específicamente diodos y transistores BJT y MOSFET. El sistema integra un módulo de ajuste de voltaje controlado y un circuito de retroalimentación que permite capturar, registrar y analizar los datos medidos en cada componente con alta precisión. Entre los resultados más destacados se encuentran la determinación de parámetros como el voltaje umbral (Vf) con una precisión del ±0.5% y el voltaje de ruptura (Vz) con un margen de error del ±1% en diodos. Para los transistores BJT, se caracterizó el parámetro de ganancia de corriente (hFE) con una precisión del ±2% y el voltaje de saturación (VCE(sat)) con un error del ±1.5%. En los transistores MOSFET, se logró medir el voltaje umbral (VGS(th)) con una precisión del ±0.5% y la resistencia de encendido (RDS(on)) bajo condiciones controladas, con un margen de error inferior al ±2%. De esta manera, el sistema proporciona al usuario una caracterización detallada y confiable de los componentes, facilitando la evaluación de su calidad y desempeño en aplicaciones electrónicas.

• Autores: Rojas Montoya, Jeison Stiven; Pinilla Hernandez, Andres Felipe
• Tipo de recurso: https://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
• Fecha de publicación: 2025
• Institución: Universidad El Bosque
• Repositorio: Repositorio U. El Bosque
• Idioma: spa
• OAI Identifier: oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/14218
• Acceso en línea: https://hdl.handle.net/20.500.12495/14218
• Palabra clave: Semiconductores; Diodos; Transistores; Caracterización; Medición; 621.381; Semiconductors; Diodes; Transistors; Characterization; Measurement
• License: Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International