Estudio estructural del compuesto ZnO dopado con cerio mediante difracción de rayos X usando el software Matlab
En este estudio se desarrolló un algoritmo en el software Matlab para el análisis de las propiedades estructurales del óxido de zinc (ZnO) dopado con cerio (Ce) en concentraciones molares comprendidas entre 0.01 ≤ x ≤ 0.05, utilizando el método sol-gel para su síntesis. La caracterización estructura...
- Autores:
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Almanza Jiménez, Héctor Manuel
- Tipo de recurso:
- Trabajo de grado de pregrado
- Fecha de publicación:
- 2025
- Institución:
- Universidad de Córdoba
- Repositorio:
- Repositorio Institucional Unicórdoba
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.unicordoba.edu.co:ucordoba/9329
- Acceso en línea:
- https://repositorio.unicordoba.edu.co/handle/ucordoba/9329
https://repositorio.unicordoba.edu.co/
- Palabra clave:
- Difracci´on de rayos X (DRX)
Método sol-gel
Óxido de zinc (ZnO)
Refinamiento rietveld
Software matlab
X-ray diffraction (XRD)
Sol-gel method
Zinc oxide (ZnO)
Rietveld refinement
Matlab software
- Rights
- openAccess
- License
- Copyright Universidad de Córdoba, 2025
| Summary: | En este estudio se desarrolló un algoritmo en el software Matlab para el análisis de las propiedades estructurales del óxido de zinc (ZnO) dopado con cerio (Ce) en concentraciones molares comprendidas entre 0.01 ≤ x ≤ 0.05, utilizando el método sol-gel para su síntesis. La caracterización estructural se realizó mediante difracción de rayos X (DRX), identificándose dos fases principales: ZnO con estructura tipo wurtzita y CeO2 con estructura tipo fluorita. Mediante el algoritmo implementado en Matlab para el refinamiento Rietveld, se determinaron los parámetros de red tanto del ZnO puro y ZnO dopado con Ce, obteniéndose valores de a = 3.2500 Å y c = 5.2072 Å para el ZnO puro, y observándose una variación de los parámetros de red a y c en las muestras dopadas. El volumen de celda, también calculado mediante este refinamiento, se encontró en un rango comparable a los valores reportados en la literatura. Asimismo, se efectuó un análisis de microtensiones y densidad de dislocaciones, permitiendo evaluar las deformaciones internas y defectos estructurales en la red cristalina del material. El tamaño de cristal se estimó mediante la ecuación de Scherrer, considerando siete picos de difracción seleccionados, obteniéndose un valor promedio de 36.37 nm. |
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