Structural discrimination of nanosilica particles and mixed-structure silica by multivariate analysis applied to SAXS profiles in combination with FT-IR spectroscopy
- Autores:
-
Ruiz Y.P.
Ferrão M.F.
Cardoso M.B.
Moncada E.A.
Dos Santos J.H.Z.
- Tipo de recurso:
- Fecha de publicación:
- 2016
- Institución:
- Instituto Tecnológico Metropolitano
- Repositorio:
- Repositorio ITM
- Idioma:
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.itm.edu.co:20.500.12622/3662
- Acceso en línea:
- http://hdl.handle.net/20.500.12622/3662
- Palabra clave:
- Rights
- License
- http://purl.org/coar/access_right/c_14cb