Structural discrimination of nanosilica particles and mixed-structure silica by multivariate analysis applied to SAXS profiles in combination with FT-IR spectroscopy

Autores:

Ruiz Y.P.
Ferrão M.F.
Cardoso M.B.
Moncada E.A.
Dos Santos J.H.Z.

Tipo de recurso:

Fecha de publicación:

2016

Institución:

Instituto Tecnológico Metropolitano

Repositorio:

Repositorio ITM

Idioma:

OAI Identifier:

oai:repositorio.itm.edu.co:20.500.12622/3662

Acceso en línea:

http://hdl.handle.net/20.500.12622/3662

Palabra clave:

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License

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