Étude et conception d'un aiguilleur de courant pour mesurer la température de jonction des semiconducteurs de puissance (2021)
En un contexto en el cual las aplicaciones de electrónica de potencia se vuelven cada vez más demandantes, la fiabilidad de los componentes de potencia se vuelve una tarea primordial. Entro los aspectos a ser estudiados está la medición de la temperatura de juntura de los semiconductores de potencia. Los métodos eléctricos para la medición de la temperatura son de rápida y fácil aplicación y proveen información importante sobre la temperatura promedio de dichos componentes. La medición de parámetros eléctricos termosensibles (TSEP) requiere de sistemas eléctricos apropiados para tal fin. Este documento presenta el estudio, diseño y la implementación de un sistema conmutador de corriente para un banco de medición de la temperatura de juntura de semiconductores de potencia. Inicialmente, los objetivos del trabajo son presentados, Después, un breve estado del arte es presentado incluyendo semiconductores de potencia, y los métodos de medición de la temperatura de juntura. Posteriormente, se explica la metodología desarrollada a lo largo del proyecto. Finalmente, se muestran los diferentes resultados de las simulaciones térmicas y eléctricas, la concepción 3D y el proceso de implementación.