Identificación y etiquetado de compuestos cristalinos en difractogramas de rayos-x a partir de algoritmos de machine learning (2019)
El presente documento se describe el proceso de desarrollo del software llamado "XRD-analyzer", aplicación que mediante una ingeniería de datos y uso de modelos estadísticos tiene como objetivo simplificar el análisis de difractogramas de rayos-X, y presentar al usuario clasificación de difractogramas experimentales de acuerdo con su compuesto de origen y composición cristalina de la estructura. En este informe se incluye información asociada a la problemática que se pretende solucionar con el proyecto, alcances que puede tener el mismo, tablas de resultados que muestran estadísticas de clasificación y documentación asociada a el funcionamiento del software y al trabajo realizado durante el semestre 2019-1.