Estudio de las propiedades ópticas y estructurales en películas delgadas de ZnSe (2013)
En este trabajo se presentan resultados de la influencia de la temperatura de sustrato sobre las propiedades estructurales, morfológicas, ópticas y eléctricas en películas delgadas de ZnSe, crecidas por evaporación térmica en alto vacío sobre sustratos de vidrio y silicio monocristalino. Las muestras se caracterizaron con medidas de difracción de rayos X bajo configuración Bragg Bretano y transmitancia óptica entre 250 y 2500 nm. El estudio de difracción de rayos X mostró que las películas cristalizan con estructura cúbica con parámetro de red a = 5,67 Å, y orientación preferencial a lo largo del plano (111). Los espectros de transmitancia se simularon teóricamente y de la simulación se determinó el índice de refracción, el coeficiente de absorción, el gap óptico del material y el espesor de la muestras. Los espectros de absorción mostraron las transiciones directas E(Γ7V – Γ6C) y Eg (Γ8V – Γ6C), asociadas al desdoblamiento de la banda de valencia por la interacción espín-orbita. Los valores del gap se encuentran alrededor de 2,65 eV. La caracterización eléctrica se realizó a través de la curva I-V, Se encontró que el cobre es una material idónea para la formación del contacto óhmico. Las muestras fueron recocidas a diferentes temperaturas, y se estudia la influencia del tratamiento térmico sobre las propiedades ópticas, eléctricas, morfológicas y estructurales.